2020年9月29日，第十一届全国FIB技术及学术交流研讨会在西安交通大学创新港躬行楼正式开幕。会议开始，中国电镜学会聚焦离子束专业委员会主任、西安交通大学材料学院院长单智伟教授回顾了FIB技术的发展历史及交流研讨会的举办历程。
图为单院长做开幕致辞
聚焦离子束（Focused Ion Beam, FIB）凭借其独特的微纳尺度加工制造能力和优势，已成为众多科技研究领域不可或缺的重要工具之一，受到越来越多的关注。第一天的大会报告中，共有来自西安交通大学、南京大学、哈尔滨工业大学、中科院近代物理研究所、卡尔蔡司和上海微纳等全国知名高校及企业的16位邀请报告人分别做报告。
图为部分学者们正在进行报告
报告内容紧扣聚焦离子束在微纳样品制备、加工以及测试分析中的应用和创新。报告人围绕聚焦离子束在自己研究领域的应用情况，提出该技术存在的问题，并阐明解决问题的办法。报告内容设计严谨，层层剖析，针对性强，令现场学者们受益匪浅。与会师生热烈参与讨论过程。
在第二天的会议日程中，仍将会有来自北京大学、西安交通大学、上海交通大学、日立高新技术等国内知名高校和国际知名企业的7位优秀学者作精彩报告，为大家提供学术盛宴。本次会议受中国电子显微镜学会FIB专业委员会委托，由西安交大金属材料强度国家重点实验室、西安交通大学材料科学与工程研究院联合承办，会议邀请了众多国内FIB相关科研领域的知名科学家、研究者和工程师。会议秉承以往的优秀传统，旨在汇集国内外本领域知名科学家、研究者和工程师，共同就FIB基础技术及其最新发展成果，谈论目前存在的难点困惑，分享FIB技术的创新应用前景，并讨论聚焦离子束技术在材料科学、生命科学、物理学、地质学等领域中的基础研究和应用前景研究。
